Single-Device On-Site Inspection System for Non-Destructive Internal Defect Detection in Trees Near Constructed Facilities

Autorzy: Zhang Y.; Skibniewski M.; Chow C.; Lau D.
Czasopismo: Results in Engineering
Rok publikacji: 2026
Status: Opublikowane
DOI: 10.1016/j.rineng.2026.111732
URL: https://doi.org/10.1016/j.rineng.2026.111732
Tom: 32

© 2016-2026 Instytut Informatyki Teoretycznej i Stosowanej Polskiej Akademii Nauk