Przejdź do treści
Zhang, Y., Skibniewski, M. J., Chow, C. L., & Lau, D. (2026). Single-device on-site inspection system for non-destructive internal defect detection in trees near constructed facilities. Results in Engineering, 32, 111732. https://doi.org/https://doi.org/10.1016/j.rineng.2026.111732

Ważne informacje

Rejestr Instytutów Naukowych: RIN-IV-3/98

NIP: 631-011-22-45

REGON: 000564702

Skrytka ePUAP: /IITISPAN/SkrytkaESP

e-doręczenia: AE:PL-33995-65265-VDDUI-33

PIC (Participant Identification Code): 951424501

Kontakt

Lokalizacja:

ul. Bałtycka 5
44-100 Gliwice

Telefon:

  • +48 32 231 73 19
  • +48 32 231 71 50
  • +48 32 330 23 89

Adres e-mail: office@iitis.pl